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北野精機株式会社
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分析装置・機器

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LEED分析用 極高真空装置

低速電子線回析装置/ 
LEED:Low Energy Electron Diffraction

外観図 Dimensions
特徴

本装置は電子線の回析現象を利用し、表面の結晶構造などを観察する電子検出形表面分析装置です。(8.2.2)

分析器

Omicron社製 LEED AES ( http://www.omicron.de/index2.html

見積もり
LEED分析用 極高真空装置
※御客様の仕様に合わせた設計製作を承っておりますので、弊社までお問い合わせください。
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