本装置は非弾性散乱現象を利用し、試料中での電子エネルギー損失を計ることにより表面プラズモン(surface plasmon)電子の表面状態などを検出する電子検出形表面分析装置です。(8.2.2)
LK Technologies, Inc社製 EELS ( http://www.lktech.com/index.html )